設(shè)備固有誤差：包括儀器的分辨率限制、儀器的非線性誤差、儀器的老化等。
測(cè)量重復(fù)性：在校準(zhǔn)過程中，同一條件下重復(fù)測(cè)量得到的結(jié)果之間的差異。
操作者技能差異：不同操作者在進(jìn)行相同測(cè)量時(shí)可能存在的技術(shù)差異。
環(huán)境條件變化：如溫度、濕度、氣壓等環(huán)境因素的波動(dòng)對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
電源穩(wěn)定性：電源電壓或頻率的波動(dòng)可能影響儀器的性能。
連接和電纜損耗：測(cè)試過程中使用的電纜和連接器可能引入信號(hào)損耗或反射。
校準(zhǔn)設(shè)備誤差：用于校準(zhǔn)的參考標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備本身存在的誤差。
測(cè)量方法不確定性：測(cè)量方法本身可能存在的理論或?qū)嶋H應(yīng)用上的不確定性。
信號(hào)源穩(wěn)定性：使用的信號(hào)源在頻率、幅度或相位上的不穩(wěn)定。
設(shè)備設(shè)置和配置：設(shè)備設(shè)置錯(cuò)誤或配置不當(dāng)可能導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果偏差。
樣品位置和方向：被測(cè)設(shè)備在測(cè)試環(huán)境中的位置和方向可能影響測(cè)量結(jié)果。
隨機(jī)噪聲和干擾：測(cè)試環(huán)境中的隨機(jī)噪聲和電磁干擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
校準(zhǔn)過程的時(shí)間跨度：校準(zhǔn)過程可能需要在不同時(shí)間點(diǎn)完成，時(shí)間跨度可能導(dǎo)致的不確定性。
設(shè)備預(yù)熱和穩(wěn)定性：設(shè)備預(yù)熱不充分或在測(cè)試過程中的穩(wěn)定性變化。
數(shù)據(jù)采集和處理誤差：數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和處理算法可能引入的誤差。
