IV曲線測試：通過施加不同的電壓并測量對應(yīng)的電流，可以繪制出器件的電流-電壓（IV）特性曲線。這有助于識別器件是否存在擊穿、泄漏或?qū)▎栴}。
CV曲線測試：電容-電壓（CV）特性曲線測試可以評估器件的電容特性，這對于分析半導(dǎo)體材料的介電性質(zhì)和結(jié)構(gòu)缺陷非常重要。
溫度效應(yīng)測試：在不同溫度下進(jìn)行電參數(shù)測試，可以觀察器件性能隨溫度的變化，從而評估器件的熱穩(wěn)定性。
脈沖測試：對器件施加短暫的電流或電壓脈沖，并測量其響應(yīng)，這有助于評估器件的動態(tài)特性和響應(yīng)時間。
四線探頭法：使用四線探頭可以減少接觸電阻和線阻的影響，從而獲得更準(zhǔn)確的電阻率測量結(jié)果。
動態(tài)電阻測試：通過測量器件在不同電流或電壓下的電阻變化，可以評估器件的穩(wěn)定性和可靠性。
高頻參數(shù)測試：對于高頻應(yīng)用的半導(dǎo)體器件，參數(shù)分析儀可以測量其在高頻條件下的性能，如最大振蕩頻率等。
柵極電荷測量：對于MOSFET等器件，測量柵極電荷有助于評估其開關(guān)速度和效率。
數(shù)據(jù)記錄和分析：參數(shù)分析儀通常配備有軟件，可以自動記錄測試數(shù)據(jù)，并提供分析工具，幫助工程師快速識別和定位故障。
